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Charakterisierung

Zur Analyse von Materialien und Systemen stehen eine Vielzahl von modernen Methoden und Geräten am ISFH zur Verfügung, die wir für optische Messungen, mikroskopische Untersuchungen und elektronische Messungen einsetzen:

  • UV-VIS-IR Spektrometer
  • FTIR Spektrometer
  • Ellipsometer
  • Rasterelektronenmikroskop (REM)
  • Infrared Lifetime Mapping (ILM)
  • Lock-in Infrarot-Thermographie
  • Infrared Trap Mapping (ITM)
  • Impedanzspektroskopie
  • DLTS - deep level transient spectroscopy - Störstellenspektroskopie
  • Kapazitäts-Spannungsmessung - capacity-voltage C(V) measurement

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