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2017

H. Schulte-Huxel, R. Witteck, H. Holst, M. R. Vogt, S. Blankemeyer, D. Hinken, T. Brendemühl, T. Dullweber, K. Bothe, M. Köntges, and R. Brendel

High-efficiency modules with passivated emitter and rear solar cells – an analysis of electrical and optical losses* Journal Article

IEEE Journal of Photovoltaics 7 (1), 25-31, (2017), ISSN: 2156-3381.

Abstract | Links | BibTeX | Tags: cell interconnection, Current measurement, loss analysis, Optical interconnections, Optical losses, passivated emitter and rear cell (PERC), photovoltaic (PV) module, Photovoltaic cells, Photovoltaic systems, ray tracing, Resistance, Silicon solar cell, Standards

2015

A. Fell, K. R. McIntosh, P. P. Altermatt, G. J. M. Janssen, R. Stangl, A. Ho-Baillie, H. Steinkemper, J. Greulich, M. Muller, B. Min, K. C. Fong, M. Hermle, I. G. Romijn, and M. D. Abbott

Input parameters for the simulation of silicon solar cells in 2014 Journal Article

IEEE Journal of Photovoltaics 5 (4), 1250-1263, (2015).

Links | BibTeX | Tags: Computer architecture, Photovoltaic cells, Radiative recombination, Resistance, Semiconductor device modeling, silicon, silicon solar cells, solar cell simulation, Standards, Surface morphology

2014

M. Winter, M. R. Vogt, H. Holst, and P. P. Altermatt

Combining structures on different length scales in ray tracing: Analysis of optical losses in solar cell modules Inproceedings

Numerical Simulation of Optoelectronic Devices, 2014, 167-168, (2014), ISSN: 2158-3234.

Links | BibTeX | Tags: Absorption, Adaptive optics, Glass, Optical losses, Photovoltaic cells, ray tracing, Standards

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess carrier recombination lifetime Journal Article

IEEE Journal of Photovoltaics 4 (1), 525-531, (2014).

Links | BibTeX | Tags: Atmospheric measurements, charge carrier lifetime, eddy currents, Electrical resistance measurement, Instruments, Laboratories, Particle measurements, photoconductivity, silicon, Standards, Transient analysis

2013

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess-carrier recombination lifetime Inproceedings

IEEE (Ed.): 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) , 1396-1401, Tampa, FL, USA, (2013), ISBN: 978-1-4799-3299-3.

Links | BibTeX | Tags: Atmospheric measurements, charge carrier lifetime, eddy currents, Electrical resistance measurement, Instruments, Laboratories, Particle measurements, photoconductivity, silicon, Standards, Transient analysis

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