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2017

B. Min, J. Krügener, M. Müller, K. Bothe, and R. Brendel

Fundamental consideration of junction formation strategies for phosphorus-doped emitters with J0e < 10 fA/cm2 Journal Article

Energy Procedia 124 (Supplement C), 126-130, (2017), ISSN: 1876-6102, (7th International Conference on Silicon Photovoltaics, SiliconPV 2017, 3-5 April 2017, Freiburg, Germany).

Abstract | Links | BibTeX | Tags: emitter, junction formation, passivation, recombination

2016

J. Krügener, Y. Larionova, B. Wolpensinger, D. Tetzlaff, S. Reiter, M. Turcu, R. Peibst, J. -D. Kähler, and T. Wietler

Dopant diffusion from p+-poly-Si into c-Si during thermal annealing Inproceedings

IEEE (Ed.): 2016 IEEE 43rd Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2451-2454, Portland, OR, USA, (2016), ISBN: 978-1-5090-2725-5.

Abstract | Links | BibTeX | Tags: Annealing, boron, diffusion, junction formation, Junctions, low pressure chemical vapor deposition, passivating contacts, Resistance, Scanning electron microscopy, silicon, Substrates, Temperature measurement

D. Tetzlaff, J. Krügener, Y. Larionova, S. Reiter, M. Turcu, R. Peibst, U. Höhne, J. -D. Kähler, and T. Wietler

Evolution of oxide disruptions: The (w)hole story about passivating contacts Inproceedings

IEEE (Ed.): 2016 IEEE 43rd Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 0221-0224, Portland, OR, USA, (2016), ISBN: 978-1-5090-2725-5.

Abstract | Links | BibTeX | Tags: Annealing, junction formation, Junctions, Microscopy, passivating contacts, Photovoltaic cells, Photovoltaic systems, pinholes, polysilicon, silicon, silicon oxide

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