Veröffentlichungen

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2013

V. V. Voronkov, R. Falster, K. Bothe, and B. Lim

Light-induced Lifetime Degradation in Boron-doped Czochralski Silicon: Are Oxygen Dimers Involved? Artikel

Energy Procedia 38 , 636-641, (2013), ISSN: 1876-6102, (Proceedings of the 3rd International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics (SiliconPV 2013)).

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2011

V. V. Voronkov, R. Falster, K. Bothe, B. Lim, and J. Schmidt

The Nature of Lifetime-Degrading Boron-Oxygen Centres Revealed by Comparison of P-Type and N-Type Silicon Inproceedings

Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology XIV, 139-146, Trans Tech Publications, (2011).

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