Veröffentlichungen

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2020

I. M. Hossain, Y. J. Donie, R. Schmager, M. S. Abdelkhalik, M. Rienäcker, T. F. Wietler, R. Peibst, A. Karabanov, J. A. Schwenzer, S. Moghadamzadeh, U. Lemmer, B. S. Richards, G. Gomard, and U. W. Paetzold

Nanostructured front electrodes for perovskite/c-Si tandem photovoltaics Artikel

Opt. Express 28 (6), 8878-8897, (2020).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Effective refractive index, Enhanced solar cells, Scanning electron microscopy, Surface light scattering, tandem solar cells, Thin film deposition

2017

T. F. Wietler, D. Tetzlaff, J. Krügener, M. Rienäcker, F. Haase, Y. Larionova, R. Brendel, and R. Peibst

Pinhole density and contact resistivity of carrier selective junctions with polycrystalline silicon on oxide Artikel

Applied Physics Letters 110 (25), 253902, (2017).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: electrical resistivity, Etching, optical multistability, Scanning electron microscopy, silicon

2016

C. Kranz, B. Wolpensinger, R. Brendel, and T. Dullweber

Analysis of local aluminum rear contacts of bifacial PERC+ solar cells Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 6 (4), 830, (2016).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Aluminum, Analytical models, Bifacial passivated emitter rear contact (PERC) solar cells, contact formation, Photovoltaic cells, Printing, Scanning electron microscopy, screen-printing, silicon, Solids

J. Krügener, Y. Larionova, B. Wolpensinger, D. Tetzlaff, S. Reiter, M. Turcu, R. Peibst, J. -D. Kähler, and T. Wietler

Dopant diffusion from p+-poly-Si into c-Si during thermal annealing Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2016 IEEE 43rd Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 2451-2454, Portland, OR, USA, (2016), ISBN: 978-1-5090-2725-5.

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Annealing, boron, diffusion, junction formation, Junctions, low pressure chemical vapor deposition, passivating contacts, Resistance, Scanning electron microscopy, silicon, Substrates, Temperature measurement

2011

J. Muller, K. Bothe, S. Gatz, H. Plagwitz, G. Schubert, and R. Brendel

Contact Formation and Recombination at Screen-Printed Local Aluminum-Alloyed Silicon Solar Cell Base Contacts Artikel

IEEE Transactions on Electron Devices 58 (10), 3239-3245, (2011), ISSN: 0018-9383.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Carrier lifetime, Conductivity, Geometry, Laser ablation, local back surface field (LBSF), metallization, Scanning electron microscopy, silicon, silicon solar cells, Spontaneous emission

2009

M. A. Kessler, T. Ohrdes, B. Wolpensinger, R. Bock, and N. P. Harder

Characterisation and implications of the boron rich layer resulting from open-tube liquid source BBR3 boron diffusion processes Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2009 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 001556-001561, Philadelphia, PA, USA, (2009), ISSN: 0160-8371.

Links | BibTeX | Schlagwörter: boron, charge carrier lifetime, Degradation, Diffusion processes, Furnaces, Glass, oxygen, Scanning electron microscopy, silicon, Temperature

2008

R. Bock, J. Schmidt, R. Brendel, H. Schuhmann, and M. Seibt

Electron microscopy analysis of silicon islands and line structures formed on screen-printed Al-doped p+-surfaces Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2008 33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, 1-5, San Diego, CA, USA, (2008), ISSN: 0160-8371.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Aluminum, Crystallization, Dispersion, Electron microscopy, nanostructures, Photovoltaic cells, Scanning electron microscopy, silicon, Transmission electron microscopy

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