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2017

T. F. Wietler, D. Tetzlaff, J. Krügener, M. Rienäcker, F. Haase, Y. Larionova, R. Brendel, and R. Peibst

Pinhole density and contact resistivity of carrier selective junctions with polycrystalline silicon on oxide Artikel

Applied Physics Letters 110 (25), 253902, (2017).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: electrical resistivity, Etching, optical multistability, Scanning electron microscopy, silicon

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