Veröffentlichungen

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2014

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess carrier recombination lifetime Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 4 (1), 525-531, (2014).

Links | BibTeX | Schlagwörter: Atmospheric measurements, charge carrier lifetime, eddy currents, Electrical resistance measurement, Instruments, Laboratories, Particle measurements, photoconductivity, silicon, Standards, Transient analysis

2013

H. Wagner, M. Müller, G. Fischer, and P. P. Altermatt

A simple criterion for predicting multicrystalline Si solar cell performance from lifetime images of wafers prior to cell production Artikel

Journal of Applied Physics 114 (5), 054501, (2013).

Links | BibTeX | Schlagwörter: carrier lifetimes, cell processes, Numerical modeling, photoconductivity, Solar Cells

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess-carrier recombination lifetime Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) , 1396-1401, Tampa, FL, USA, (2013), ISBN: 978-1-4799-3299-3.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Atmospheric measurements, charge carrier lifetime, eddy currents, Electrical resistance measurement, Instruments, Laboratories, Particle measurements, photoconductivity, silicon, Standards, Transient analysis

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