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2014

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess carrier recombination lifetime Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 4 (1), 525-531, (2014).

Links | BibTeX | Schlagwörter: Atmospheric measurements, charge carrier lifetime, eddy currents, Electrical resistance measurement, Instruments, Laboratories, Particle measurements, photoconductivity, silicon, Standards, Transient analysis

2013

A. L. Blum, J. S. Swirhun, R. A. Sinton, F. Yan, S. Herasimenka, T. Roth, K. Lauer, J. Haunschild, B. Lim, K. Bothe, Z. Hameiri, B. Seipel, R. Xiong, M. Dhamrin, and J. D. Murphy

Inter-laboratory study of eddy-current measurement of excess-carrier recombination lifetime Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) , 1396-1401, Tampa, FL, USA, (2013), ISBN: 978-1-4799-3299-3.

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