Veröffentlichungen

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2013

J. D. Murphy, K. Bothe, V. V. Voronkov, and R. J. Falster

On the mechanism of recombination at oxide precipitates in silicon Artikel

Applied Physics Letters 102 (4), 042105, (2013).

Links | BibTeX | Schlagwörter: carrier lifetimes, electron capture, electrons, Iron, silicon

2012

J. D. Murphy, K. Bothe, R. Krain, V. V. Voronkov, and R. J. Falster

Parameterisation of injection-dependent lifetime measurements in semiconductors in terms of Shockley-Read-Hall statistics: An application to oxide precipitates in silicon, Artikel

Journal of Applied Physics 111 (11), 113709, (2012).

Links | BibTeX | Schlagwörter: Doping, electron capture, electrons, silicon, Temperature measurement

2008

R. Brendel, S. Dreissigacker, N. -P. Harder, and P. P. Altermatt

Theory of analyzing free energy losses in solar cells Artikel

Applied Physics Letters 93 (17), 173503, (2008).

Links | BibTeX | Schlagwörter: charged currents, Current density, electrical resistivity, electrons, free energy

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