Prof. Rolf Brendel (links) erklärt Minister Björn Thümler (Mitte) und MR Dr. Sebastian Huster (rechts) das Fluoreszenz-Außeninspektionssystem FLOIS.
Auf der diesjährigen HANNOVER MESSE (1. bis 5. April 2019) hat das ISFH auf dem Gemeinschaftsstand „Innovationsland Niedersachsen“ das mehrfach preisgekrönte Fluoreszenz-Außeninspektionssystem FLOIS präsentiert. Auf dem Stand des Niedersächsischen Ministeriums für Wissenschaft und Kultur waren neben dem ISFH 26 weitere Aussteller von Hochschulen und Forschungseinrichtungen vertreten.
Am Dienstag, den 2. April, besuchten der Niedersächsische Minister für Wissenschaft und Kultur Björn Thümler sowie Ministerialrat Dr. Sebastian Huster (Aufsichtsratsvorsitzender des ISFH) den Gemeinschaftsstand und ließen sich dabei von Prof. Rolf Brendel auch die Funktionsweise und Anwendungsmöglichkeiten von FLOIS erläutern.
Zu den Stärken des Systems gehört, dass es weitestgehend wetterunabhängig ist und sowohl tagsüber als auch nachts angewendet werden kann. Da das Fluoreszenzbild sich zudem mit der Zeit verändert, ermöglicht FLOIS eine Altersbestimmung von Modulschäden und die Zuordnung der Schäden zu bestimmten Wetterereignissen (wie z.B. Hagel).