Veröffentlichungen

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2019

J. Schmidt, D. Bredemeier, and D. C. Walter

On the Defect Physics Behind Light and Elevated Temperature-Induced Degradation (LeTID) of Multicrystalline Silicon Solar Cells Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6), 1497-1503, (2019).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: defects, Degradation, Hydrogen, metallic impurity, multicrystalline silicon (mc-Si), silicon, Solar Cells

2018

D. Bredemeier, D. C. Walter, and J. Schmidt

Possible Candidates for Impurities in mc-Si Wafers Responsible for Light-Induced Lifetime Degradation and Regeneration Artikel

Solar RRL 2 (1), 1700159, (2018), ISSN: 2367-198X.

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Carrier lifetime, Degradation, diffusion, Multicrystalline silicon

B. Veith-Wolf, R. Witteck, A. Morlier, H. Schulte-Huxel, M. R. Vogt, and J. Schmidt

Spectra-Dependent Stability of the Passivation Quality of Al2O3/c-Si Interfaces Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 8 (1), 96-102, (2018), ISSN: 2156-3381.

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Accelerated testing, Al2O3, Aluminum oxide, Carrier lifetime, crystalline silicon, Degradation, Long-term stability, silicon nitride (SiNx), surface passivation, ultraviolet (UV) stability

2017

D. Bredemeier, D. Walter, and J. Schmidt

Light-induced lifetime degradation in high-performance multicrystalline silicon: Detailed kinetics of the defect activation Artikel

Solar Energy Materials and Solar Cells 173 , 2-5, (2017), ISSN: 0927-0248, (Proceedings of the 7th international conference on Crystalline Silicon Photovoltaics).

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Carrier lifetime, Degradation, Multicrystalline silicon

2016

B. Veith-Wolf, R. Witteck, A. Morlier, H. Schulte-Huxel, and J. Schmidt

Effect of UV illumination on the passivation quality of AlOx/c-Si interfaces Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2016 IEEE 43rd Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 1173-1178, Portland, OR, USA, (2016), ISBN: 978-1-5090-2725-5.

Abstract | Links | BibTeX | Schlagwörter: Aluminum oxide, Annealing, Carrier lifetime, crystalline silicon, Degradation, Firing, Glass, Lifetime estimation, Lighting, passivation, silicon nitride, surface passivation, UV stability

2013

A. Morlier, S. Klotz, S. Sczuka, I. Kunze, I. Schaumann, S. Blankemeyer, M. Siegert, T. Döring, T. Alshuth, U. Giese, M. Denz, and M. Köntges

Influence of the curing state of ethylene-vinyl acetate on photovoltaic modules aging Inproceedings

WIP (Hrsg.): Proceedings of the 28th European Photovoltaic Solar Energy Conference, 2832-2837, Paris, France, (2013), ISBN: 3-936338-33-7.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Degradation, Encapsulation, PV Module

T. Dullweber, C. Kranz, U. Baumann, R. Hesse, D. Walter, J. Schmidt, P. Altermatt, and R. Brendel

Silicon wafer material options for highly efficient p-type PERC solar cells Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2013 IEEE 39th Photovoltaic Specialists Conference (PVSC) , 3074-3078, Tampa, FL, USA, (2013), ISBN: 978-1-4799-3299-3.

Links | BibTeX | Schlagwörter: charge carrier lifetime, Conductivity, Degradation, light-induced degradation, PERC, Photovoltaic cells, Semiconductor device modeling, silicon, silicon solar cells

2011

F. E. Rougieux, M. Forster, D. Macdonald, A. Cuevas, B. Lim, and J. Schmidt

Recombination Activity and Impact of the Boron-Oxygen-Related Defect in Compensated N-Type Silicon Artikel

IEEE Journal of Photovoltaics 1 (1), 54-58, (2011), ISSN: 2156-3381.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Compensated, Degradation, Doping, light-induced degradation, Lighting, Mathematical model, n-Type, Photovoltaic cells, silicon

2010

Y. Larionova, N. P. Harder, and R. Brendel

Effect of SiO2 thicknesses in thermal-SiO2/PECVD-SiN stacks on surface passivation of n-type Cz silicon substrates Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2010 35th IEEE Photovoltaic Specialists Conference, 001207-001209, Honolulu, HI, USA, (2010), ISSN: 0160-8371.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Annealing, Degradation, passivation, silicon, Silicon compounds, Substrates

2009

M. A. Kessler, T. Ohrdes, B. Wolpensinger, R. Bock, and N. P. Harder

Characterisation and implications of the boron rich layer resulting from open-tube liquid source BBR3 boron diffusion processes Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2009 34th IEEE Photovoltaic Specialists Conference (PVSC), 001556-001561, Philadelphia, PA, USA, (2009), ISSN: 0160-8371.

Links | BibTeX | Schlagwörter: boron, charge carrier lifetime, Degradation, Diffusion processes, Furnaces, Glass, oxygen, Scanning electron microscopy, silicon, Temperature

2008

B. Lim, K. Bothe, and J. Schmidt

Modeling the generation and dissociation of the boron-oxygen complex in B-Doped Cz-Si Inproceedings

IEEE (Hrsg.): 2008 33rd IEEE Photovoltaic Specialists Conference, 1-4, San Diego, CA, USA, (2008), ISSN: 0160-8371.

Links | BibTeX | Schlagwörter: Annealing, charge carrier lifetime, Degradation, Lighting, Photovoltaic cells, Semiconductor device modeling, silicon, Solar power generation, Temperature, Voltage

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