Hagelschäden an Photovoltaik-Modulen sind schwer erkennbar und schwierig nachzuweisen. „FLOIS“ ist ein neues, mehrfach preisgekröntes Analyseverfahren des Instituts für Solarenergieforschung (ISFH) in Hameln.
Es geht um ein vom ISFH entwickeltes Gerät, mit dem in PV-Freifeldanlagen bis zu 200 Module in der Stunde auf Mikrorisse untersucht werden können; viel schneller als mit anderen Methoden. Dieses Verfahren ist vom „pv-magazin“ mit dem „pv magazine award“ in der Kategorie „Top Innovation“ ausgezeichnet worden.
Mit dieser Methode lassen sich nicht nur Schäden an sich lokalisieren, sondern auch Altersbestimmungen der Schäden durchführen.